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星河电路板光学检测设备，解决抛料、锡珠检测难题

发布时间：

2012-08-24 00:00

来源：

　　抛料与锡珠是PCBA生产中常见的故障，对质量的影响很大，我司的AOI算法采用图像对比加图像特征的综合判据法，很好的解决了检出与误报的冲突问题，能确保检出整板任意（可见）位置的异物，并把"多件故障"的误判率控制在0.1％以下，本技术处于国际先进水平。

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星河ICT电路板检测产品在新闻联播中被展现

我司又一项发明专利获得授权

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