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刘博士发表自动光学检测仪(AOI)论文

浏览次数: 日期:2010-4-22 09:46

  全自动光学检测仪(AOI)研发核心成员之一的刘博士,日前发表<<AOI技术及其发展>>论文,从核心技术、面临的问题、发展方向全面阐述了AOI的问题。

  刘博士说:AOI检测实质上是属于模式识别的范畴, 识别算法的好坏直接影响到智能图像识别系统的性能,进而影响整个AOI系统的性能。目前在AOI上面至少可以完整地应用以下的视觉识别算法: 1、 图形识别法 2、 图像分析技术 3、运算法则  4、与SPC(统计过程控制Statistical Process Control)紧密结合。

  刘博士指出:AOI设备的核心是算法,而算法的核心则是基于机器学习的模式识别系统。因此引入最新的模式识别成果到AOI的缺陷检测和缺陷分类中,是未来AOI设备的一个发展方向。

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