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我们的PCB光学检测设备可以测多件吗?

我们的PCB光学检测设备可以测多件吗?

【概要描述】在SMT生产中,多件一般是无法检测的,我们AOI的可以实现吗?多件是缺陷,是AOI检测中的一个难点,主要原因是"位置不确定",就是说,整个电路板的所有地方,都有可能多出"异物"来,若仅仅是在元件的焊盘位置,不该贴件的地方贴了件,那很好检测,但,客户说的"多件检测",通常是指"在任意位置,出现异物",这种情况,星河的AOI是可以检测的,但实际应用起来也是有一些局限条件的。

我们的PCB光学检测设备可以测多件吗?

【概要描述】在SMT生产中,多件一般是无法检测的,我们AOI的可以实现吗?多件是缺陷,是AOI检测中的一个难点,主要原因是"位置不确定",就是说,整个电路板的所有地方,都有可能多出"异物"来,若仅仅是在元件的焊盘位置,不该贴件的地方贴了件,那很好检测,但,客户说的"多件检测",通常是指"在任意位置,出现异物",这种情况,星河的AOI是可以检测的,但实际应用起来也是有一些局限条件的。

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  在SMT生产中,多件一般是无法检测的,我们AOI的可以实现吗?

  多件是缺陷,是AOI检测中的一个难点,主要原因是"位置不确定",就是说,整个电路板的所有地方,都有可能多出"异物"来,若仅仅是在元件的焊盘位置,不该贴件的地方贴了件,那很好检测,但,客户说的"多件检测",通常是指"在任意位置,出现异物",这种情况,星河的AOI是可以检测的,但实际应用起来也是有一些局限条件的。

  首先,我们对异物的大小要有一定的限制,异物不能太小,一般小于电路板上丝印宽度的情况,就很难检测。

  其次,异物若为金属物,有明显的反光特性,会比较好检测,否则,若是颜色接近底板或接近丝印,都很难检测。

  再就是,编程时,需要将全部PCB板面均包含进检测的FOV中来,只有编程的区域才能检测。

  我们的AOI具有"屏蔽所有元件窗口"的功能,就是说,只要该区域画了元件窗口(本体、焊盘、IC管脚等),那么,在"污点测试窗"中,就会屏蔽掉这些窗口内的内容,从而避免因元件表面的变化或元件焊盘上焊锡的变化,产生"污点误报",这也是我司AOI能进行"多件检测"的一项关键技术,其它的关键技术,还包括"图像特征描述"技术,这个技术可以保证仅挑选出金属异物,而不会对丝印的变化产生误报。

  当然,要检测"多件"肯定要比纯粹检测元件和焊点多画更多的FOV,所以,总的检测速度下降是必然的。

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